RESEARCH ON THE INFLUENCE OF DIFFERENCE BETWEEN PITCHES OF TWO GRATINGS IN MOIRE DEFLECTOMETRY
作者：
蒋胜安;廖兆曙
作者机构：
长沙电力学校
华中理工大学 410076
武汉 430074
语种：
中文
关键词：
莫尔条纹;光栅;泰伯效应;测量精度
关键词(英文)：
grating;Talbot effect
期刊：
应用光学
ISSN：
1002-2082
年：
1993
期：
04
页码：
62-64+53
机构署名：
本校为第一机构
摘要：
分析了莫尔偏折术中光栅付栅距差对测量精度的影响,提出了用减小栅距差来提高精度的结构措施。
摘要(英文)：
The influence of the difference of pitches on accuracy in Moire deflectometry is analysed. To increase the measurement accuracy, the new measurement methods with small difference b...
