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一种基于分块式扫查及衰减补偿的漏表面波超声成像方法

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成果类型:
专利
发明/设计人:
胡宏伟 ;周刚 ;王磊 ;王向红 ;周永立 ;...
申请/专利权人:
长沙理工大学 
专利类型:
发明专利
申请时间:
2020-07-22
申请/专利号:
CN202010709388.8
公开时间:
2020-10-16
公开号:
CN111781274A
摘要:
本发明公开了一种漏表面波超声成像方法,实现了对零件表面或近表面缺陷的检测成像。通过采集不同位置的缺陷波数据,获得漏表面波的衰减曲线,然后使用四轴运动平台进行分块式漏表面波超声B扫描,并对检测数据进行衰减补偿,最后对衰减补偿后的数据进行叠加获得超声成像数据。本发明的技术效果在于采用漏表面波超声检测,无需使用耦合剂,配合运动平台可以实现自动化检测;采用衰减补偿方法解决漏表面在传播过程中的衰减问题,保证缺陷成像精度;采用分块式扫查,解决了漏表面波由于能量衰减严重导致有效检测面积过小的问题,实现大面积检测。

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