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双路扫描式激光测径仪系统设计

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成果类型:
期刊论文
作者:
康志远;龙威;唐立军;吴定祥
作者机构:
五凌电力有限公司近尾洲水电厂
长沙理工大学物理与电子科学学院
长沙亿旭机电科技有限公司
近地空间电磁环境监测与建模湖南省普通高校重点实验室
语种:
中文
关键词:
激光测径;双路扫描;标准棒法
关键词(英文):
ARM+FPGA;ARM+FPGA;double scanning;standard bar method
期刊:
测控技术
ISSN:
1000-8829
年:
2019
期:
05
页码:
72-76
基金类别:
国家科技支撑计划课题(2014BAH28F04) 湖南省教育厅科学研究重点项目(14C0031,15K009).
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
物理与电子科学学院
摘要:
针对企业对小型零部件生产线上的工件线径检测精度和稳定性问题,研制了一款基于ARM+FPG A的双路扫描式激光测径系统,用于解决扁平形漆包线线径的精确测量问题。该测径系统采用标准棒法测量原理,运用累加求和取平均值的处理算法,实现了工件线径的厚度和宽度双向检测,克服了单路激光测径系统测量范围受限等缺点。实验结果表明,该测径仪精度可达到0.001 mm,示值误差不超过±0.005 mm,稳定性能好,测量精度高,适合于生产线上小尺寸工件线径的精度检测。由于FPGA的快速数据处理能力,本系统特别适用于动态线材的尺寸监测。
摘要(英文):
According to the accuracy and stability of workpiece diameter detection in small parts production line, a dual scanning laser diameter measuring system based on ARM + FPGA was developed to solve the problem of accurate measurement of the diameter of flat enameled wire. The diameter measuring system uses the principle of standard bar method to measure the thickness and the width of workpiece diameter by using the algorithm of summation and averaging, which overcomes the shortcomings of limited measurement range of single laser diameter measuring...

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