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RISC-V随机化过程的抗功耗分析攻击设计

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成果类型:
期刊论文
作者:
白创;肖鸣松;童元满
作者机构:
长沙理工大学物理与电子科学学院,长沙410114
[童元满] 深圳市安信智控科技有限公司
[肖鸣松; 白创] 长沙理工大学
语种:
中文
关键词:
功耗分析攻击;相关性系数
关键词(英文):
CV32E40P;RISC-V
期刊:
单片机与嵌入式系统应用
ISSN:
1009-623X
年:
2023
卷:
23
期:
07
页码:
3-7
基金类别:
2020GK2012:高新技术产业科技创新引领计划(科技攻关类)项目
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
物理与电子科学学院
摘要:
提出了一种基于随机化过程来抵御功耗分析攻击的方法。该随机化过程综合采用3种手段:在指令执行过程中,随机生成并插入与上一条真实指令相似的虚拟指令,使得插入的随机功耗与上条真实指令相近以避免被准确分析功耗;在指令执行、写回阶段插入一个随机延时来混淆指令执行时间以避免被准确定位;通过4种不同频率的时钟随机切换来对系统时钟进行扰乱以混淆瞬时功耗。基于CV32E40P处理器实现了该方法并通过相关功耗分析攻击进行实验,实验结果表明得到的最高相关性系数为0.139,比原处理器低0.641,该方法大大提高了处理器的抗功耗分析攻击能力。

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